Електронна мікроскопія
Сканувальний електронний мікроскоп SEO-SEM Inspect S50-B
Сканувальний електронний мікроскоп SEO-SEM Inspect S50-B призначений для вимірювань лінійних розмірів, форми, орієнтації та інших параметрів наноструктур і мікрорельєфу поверхонь різних об'єктів. Мікроскоп SEO-SEM Inspect S50-B застосовується для вивчення нанохарактеристик:
- металів і сплавів, їх окислення / корозії, зварювання, полірування, аналізу дефектів;
- магнітних матеріалів і суперпровідників;
- керамічних, композитних і полімерних матеріалів;
- геологічних розрізів, мінералів;
- м'яких матеріалів: полімерів, фармацевтичних препаратів, фільтрів, гелів, тканин, рослинних матеріалів, волокон та ін.
Ключові переваги:
- простий у використанні, інтуїтивно зрозуміле програмне забезпечення забезпечує високоефективну роботу для користувачів-початківців;
- легко характеризує провідники та діелектричні зразки;
- зменшення часу на підготовку зразка та отримання зображення;
- стабільні струми високого значення (до 2 мкА) забезпечують швидкий та точний аналітичний аналіз.
Електронно-оптична система:
- як джерело електронів у гарматі використовується вольфрамовий катод із термоелектронною емісією;
- можливість електромагнітного регулювання апертури пучка без встановлення блоку механічних діафрагм;
- функція автоматичного вибору оптимального струму розжарення катода та автоматичного вирівнювання електронної гармати;
- октупольна конструкція стигматора, електромагнітна з функцією запам'ятовування параметрів стигматора для роботи при різних збільшеннях та прискорювальних напругах;
- електромагнітна система центрування колони;
- автоматичне підстроювання струму електромагнітних лінз та автоматична система налаштування електронно-оптичної системи з можливістю ручної корекції налаштування.
Детектори сигналів
- детектор електронів типу Еверхарта-Торнлі;
- детектор вторинних електронів у режимі низького вакууму (LFD);
- висувний детектора відбитих електронів із чотирма квадрантами для реєстрації сигналу за 4-ма незалежними каналами та можливістю роботи в режимах топографічного та фазового контрастів;
- ІЧ-камера для перегляду зразків у камері;
- детектор струму, індукованого електронним променем;
- катодолюмінесценція;
- EDS;
- WDS;
- EBSD;
- Nan-Cam — кольорова оптична камера.
| Технічна специфікація | |||
| 1 | Роздільна здатність | Високий вакуум: |
- 3 нм при прискорювальній напрузі 30 кВ - 8 нм при прискорювальній напрузі 3 кВ |
| Низький вакуум: |
- 3 нм при прискорювальній напрузі 30 кВ - 4 нм при прискорювальній напрузі 3 кВ |
||
| 2 | Збільшення | плавне регулювання збільшення в діапазоні від 6× до 1 000 000× без спотворень та викривлень у всьому діапазоні | |
| 3 | Прискорювальна напруга | діапазон від 200 В до 30 кВ можливість плавного регулювання прискорювальної напруги |
|
| 4 | Тиск у камері | 9*10-4 Па | |
| 5 | Поле огляду | 24 мм при робочій відстані 30 мм | |
| 6 | Робочий струм | плавна зміна струму від 0 пА до 2 мкА вбудований пікоамперметр для вимірювання поглинання струму |
|
| 7 | Вакуумна система | турбомолекулярний насос (70 л / с) та форвакуумний насос час відкачування камери менше 150 с при високому вакуумі, менше 270 с при низькому вакуумі |
|
| 8 | Камера | - діаметр 284 мм - робоча дальність 10 мм - 12 портів |
|
| 9 | Столик | Моторизований за трьома осями - діапазон переміщень столика: Х 50 мм, Y: 50 мм, Z: 50 мм; - діапазон нахилу: від -15° до +75°; опціонально: від -90° до + 90°; - можливість безперервного обертання зразка (360°); - поле огляду 6,5 мм при робочій відстані 10 мм |
|
| 10 | Система керування | - 32-біт Windows® XP (за запитом може комплектуватися ОС Windows 10) - клавіатура; - оптична мишка; - один / два 24" LCD-дисплеї; - блок безперебійного живлення; - встановлене програмне забезпечення; - контрольна панель та джойстик |
|
Мікроскоп SEO-SEM Inspect S50-B складається з основної консолі, що включає електронно-оптичну систему, камеру зразків, вакуумну систему, блок електроніки (модулі сканування та виявлення) та керуючого (серверного) комп'ютера з програмним забезпеченням. Гарантія — 2 роки.
Просвічувальний електронний мікроскоп SEO-TEM
SEO-TEM — це новий 100 кВ електронний мікроскоп. SEO-TEM має комп'ютерну систему керування, що забезпечує гнучке управління всіма системами мікроскопа. Високі параметри, поєднані з широким діапазоном функціональних можливостей та низькою ціною, забезпечують успішне використання SEO-TEM у різних галузях науки — від біотехнологій до матеріалознавства.
Відмінні особливості:
- Оригінальний компактний дизайн
- Простота та зручність у керуванні
- Автоматизація робочих та настроювальних режимів на базі промислового процесора
- Цифрова система запису зображень у ПК на базі CCD камери
| Технічна специфікація | |||
| 1 | Роздільна здатність | Гарантована | 0,5 нм |
| Досяжна | 0,34 нм | ||
| 2 | Прискорювальна напруга | 25 – 100 кВ | |
| 3 | Діапазон збільшень (електронних) | 100 крат - 400 000 крат | |
| 4 | Діапазон збільшень (цифрових) | 100 крат – 1 000 000 крат | |
Усі системи мікроскопа контролюються промисловою комп'ютерною станцією за допомогою програмного забезпечення SEO TEM Control (свідоцтво про реєстрацію №27336), що забезпечує:
- вмикання та вимикання мікроскопа із запам'ятовуванням параметрів обраного режиму
- створення індивідуальних файлів та відтворення їх при вмиканні мікроскопа
- авторежим керування вакуумною системою
- режим темного та світлого поля
- режим мікродифракції
- zoom фокуса та яскравості
- режими юстирування мікроскопа
- авторежим керування фотокамерою
- контроль координат столу
- Woobler високої напруги та струму об'єктивної лінзи
- можливість підключення цифрової системи запису зображень SEO SCAN
Додаткові системи та обладнання:
- Вакуумна фотокамера на пластинах 6-9 см
- Автоматизована система керування столом SEO-Stage Control
- Пристрій нахилу об'єктів
- Автономна система водяного охолодження
- Витратні матеріали для сервісу та експлуатації мікроскопа
- Обладнання для препарування об'єктів
Растровий електронний мікроскоп SEO-MicroScan
Растровий електронний мікроскоп SEO-MicroScan призначений для дослідження рельєфу різних об'єктів у твердій фазі та параметрів мікрорельєфу поверхні.
При оснащенні мікроскопа рентгенівським мікроаналізатором можливе проведення аналізу елементного складу об'єктів методом рентгенівського мікроаналізу за енергіями квантів характеристичного рентгенівського випромінювання.
Мікроскоп може використовуватися у наступних галузях: матеріалознавстві, геології, біології та медицині.
| Технічна специфікація | |||
| 1 | Роздільна здатність у режимі ВЕ | 5 - 10 нм | |
| 2 | Робочий відрізок | 5 - 40 мм | |
| 3 | Діапазон прискорювальних напруг | 0.1 - 30 кВ | |
| 4 | Діапазон збільшень | 10 - 300 000 крат | |
| 5 | Діапазон струму пучка | 1 пА - 1 мкА | |
| 6 | Переміщення об'єкта за осями X, Y, мм | X = ±40 мм, Y = ±40 мм, T = до +60°, R = 360°, Z = 8 - 35 мм | |
| 7 | Робочий вакуум у камері об'єктів (вакуумна система на базі ТМН) | високовакуумний режим | 1 x 10-5 Торр |
| низьковакуумний режим | 1-20 Торр | ||
| 8 | Час отримання робочого вакууму | 20 хв | |
| 9 | Готовність приладу до роботи після зміни об'єкта | 5 хв | |
| 10 | Споживана потужність | 220 В (±10%), 50/60 Гц, 2 кВА | |
| 11 | Водяне охолодження | 2 л/хв, тиск: від 0.05 до 0.2 МПа, температура: 20°±5° C | |
| 12 | Розміри головної консолі приладу (довжина, ширина, висота) | 650 x 650 x 850 мм | |
| 13 | Маса | 200 кг | |
Стаціонарна система охолодження води SEO-COOL для ЕМ
Стаціонарна система охолодження SEO-COOL призначена для забезпечення охолодження, підтримки температури та циркуляції води через охолоджувальне обладнання. Система використовується на вакуумних приладах: електронних мікроскопах, установках для напилення та ін., де використовуються вакуумні насоси, які потребують відведення тепла.
Система забезпечує:
- підтримку заданої температури води з точністю ±0,5° C
- діапазон температури, що контролюється: 12-35° C
- циркуляцію води 9 л/хв.
Система має власну ємність (10 л) для охолодження води. Система працює від електромережі 220 В, 50 Гц і споживає потужність 1 кВт. Система складається з блоку розміром 500 х 500 х 700 мм, мережевого кабелю та комплекту водяних шлангів.
Запасні частини та витратні матеріали
Ми постачаємо все необхідне:
- для ремонту та сервісного обслуговування мікроскопів
- обладнання та пристосування для препарування
- витратні матеріали
- матеріали для препарування